Zuschlag

Kompakt-Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung

Name: Kompakt-Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung
Creator: Friedrich-Schiller-Universität Jena
Published: 2026-11-12
License: https://ted.europa.eu/en/simap/legal-notice

Diesen Eintrag verfolgenMit Adjudera Pro benachrichtigt werden, bevor hier ein Vertrag ausläuft.

Auftraggeber: Friedrich-Schiller-Universität Jena
Auftragnehmer: Jeol (Germany) GmbH
Auftragswert: 109.085 €Rahmenvertragswert — in Summen zur Marktgröße nicht enthalten, da mehrfach je Los ausgewiesen.
Angebote: 2
Veröffentlicht: 12. Nov. 2026
Zuschlag: 11. Nov. 2026
Vertragsbeginn: 11. Nov. 2026
Vertragsende: 12. März 2027geschätzt
Branche: Laborgeräte und optische Geräte
Region: Jena, Kreisfreie Stadt
Quelle: Originalbekanntmachung bei TED (792044-2026)

Weitere Zuschläge dieses Auftraggebers

Zuschlag	Auftraggeber	Auftragnehmer	Auftragswert	Veröffentlicht
Kompakt-Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung	Friedrich-Schiller-Universität Jena	Jeol (Germany) GmbH	109.085 €RV	12. Nov. 2026
Multifunktionales FPGA-basiertes Steuerungs-, Mess und Signalverarbeitungsinstrument	Friedrich-Schiller-Universität Jena	SI Scientific Instruments GmbH	72.700 €	4. Nov. 2026
Automatisiertes Viskosimeter/Rheometer für Kleinst-probenmengen	Friedrich-Schiller-Universität Jena	Sphera Analytics GmbH	82.332 €RV	3. Nov. 2026
Automatisiertes Viskosimeter/Rheometer für Kleinst-probenmengen	Friedrich-Schiller-Universität Jena	Sphera Analytics GmbH	82.332 €RV	3. Nov. 2026
Spektral aufgelöster Zeilendetektor im Infrarot-Bereich von 1050-2200 nm	Friedrich-Schiller-Universität Jena	Quantum Design GmbH	97.613 €RV	3. Nov. 2026
Spektral aufgelöster Zeilendetektor im Infrarot-Bereich von 1050-2200 nm	Friedrich-Schiller-Universität Jena	Quantum Design GmbH	97.613 €RV	3. Nov. 2026